エネルギー分散型蛍光Ｘ線 (金属・合金) 分析装置 OSK083YN04A　　　　

＜金属・合金＞

• Xenemetrix社 エネルギー分散型蛍光エックス線分析装置(ED-XRF)は、様々な金属産業プロセスの品質管理において、主要な役割を果たしています。非破壊元素分析は鉱石から完成した合金まで、プロセスの各ステップで行うことができます。ED-XRFは異なったスチールグレードを簡単に早く分類することができ、瞬間的に結果を出す品質管理の分析的なツールとしても非常に便利です。

＜合金分析＞

• Xenemetrix社の分光計を使用した合金分析は標準的な実例となっています。この分光計は、ほとんどの合金を識別し、完全な化学分析を数秒以内に実施します。ハイレベルの分光計は、簡単かつ迅速に分類し、以下を含む、全クラスの合金を識別します。鉄、スチールー低合金、ステンレススチール、銅、真鍮、青銅、アルミニウム青銅、鉛入りの真鍮と青銅、アルミニウム、ニッケル合金、亜鉛合金、コバルト合金、チタン合金、はんだ錫、鉛、銀）。

＜貴金属＞

• 貴金属は宝飾品、産業用、投資用に重要です。Xenemetrix社の卓上型分光計では、金属を検知し、含有量を検査することが可能です。低運用コストで実施でき、サンプル準備も不要です。Xenemetrix社 分析装置の本質的な利点は「高精度と正確さ」です。この分析装置は販売された商品の元素含有率や、カラット値を数秒で測定することが可能です。

＜鉱石、スラグ、フィード、精鉱、及びテーリング＞

• ED-XRFは金生産工程の各ステップで重要な役割を果たします。大小の成分をED-XRFで分析しています。

＜シリコンメタル（金属ケイ素）＞

• シリコンは半導体産業で非常に重要な半金属で、高純度が求められます。ED-XRFは高シリコンサンドの不純物を定量する事に多く使われ、精製プロセス全体、及びウェハ製造中に使用可能です。また、高機能ED-XRFは、ウェハ分析に特化して設計されています。

＜金属箔の厚み＞

• 金属の薄片は、想像できる限りの全ての元素金属から生産され、その厚みはED-XRFによりオンラインで簡単に計測可能です。

＜上記関連製品リンク先＞

• 蛍光X線分析装置　対象品番：OSK083YN100～OSK083YN800